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Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis

Ludwig Reimer ; : N.Y., : Berlin. -- Springer-Verlag, 1985. -- (Springer series in optical sciences ; v. 45). <BB10034720>
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Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis

Ludwig Reimer ; : N.Y., : Berlin. -- Springer-Verlag, 1985. -- (Springer series in optical sciences ; v. 45). <BB10034720>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 宇都宮 2F 閉架 Z/SP/45 10012070 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 宇都宮
配置場所 2F 閉架
請求記号 Z/SP/45
資料ID 10012070
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis / Ludwig Reimer
出版・頒布事項 Berlin ; Tokyo : Springer-Verlag , c1985
形態事項 xviii, 457 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
巻次等 : N.Y.
ISBN 0387135308
巻号情報
巻次等 : Berlin
ISBN 3540135308
書誌構造リンク Springer series in optical sciences <BB31000366> v. 45//a
注記 Bibliography: p. [405]-446
注記 Includes index
学情ID BA00063343
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Reimer, Ludwig, 1928- <AU10009411>
分類標目 科学技術 NDLC:ND448
分類標目 LCC:QH212.S3
分類標目 DC19:535/.3325
件名標目等 Scanning electron microscope
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