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VLSI testing

edited by T.W. Williams. -- North-Holland, 1986. -- (Advances in CAD for VLSI ; v. 5). <BB10035237>

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VLSI testing

edited by T.W. Williams. -- North-Holland, 1986. -- (Advances in CAD for VLSI ; v. 5). <BB10035237>

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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

ナンバーをクリックすると所蔵詳細をみることができます。

No.	巻号	所蔵館	配置場所	請求記号	資料ID	状態	返却予定日	予約	WEB書棚
0001		宇都宮	1F 集密書架洋書	Z/AD/5	10011204			0件


No.	0001
巻号
所蔵館	宇都宮
配置場所	1F 集密書架洋書
請求記号	Z/AD/5
資料ID	10011204
状態
返却予定日
予約	0件
WEB書棚

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書誌詳細

標題および責任表示

VLSI testing / edited by T.W. Williams

出版・頒布事項

Amsterdam ; New York : North-Holland

出版・頒布事項

New York : Sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier Science , 1986

形態事項

ix, 275 p. : ill. ; 25 cm

巻号情報

ISBN	0444878955

書誌構造リンク

Advances in CAD for VLSI <BB10100446> v. 5//a

注記

Includes bibliographies

学情ID

BA00276923

本文言語コード

英語

著者標目リンク

Williams, T. W. <AU10016642>

分類標目

LCC:TK7874

分類標目

DC19:621.395

件名標目等

Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing

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