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Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A.

editors, Noble M. Johnson, Stephen G. Bishop, George D. Watkins. -- Materials Research Society, 1985. -- (Materials Research Society symposium proceedings ; v. 46). <BB10038870>
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Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A.

editors, Noble M. Johnson, Stephen G. Bishop, George D. Watkins. -- Materials Research Society, 1985. -- (Materials Research Society symposium proceedings ; v. 46). <BB10038870>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 宇都宮 1F 集密書架 洋書 Z/MA/46 10011676 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 宇都宮
配置場所 1F 集密書架 洋書
請求記号 Z/MA/46
資料ID 10011676
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A. / editors, Noble M. Johnson, Stephen G. Bishop, George D. Watkins
出版・頒布事項 Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society , c1985
形態事項 xv, 604 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0931837111
書誌構造リンク Materials Research Society symposium proceedings <BB10100045> v. 46//a
注記 Includes bibliographies and indexes
学情ID BA03908080
本文言語コード 英語
著者標目リンク Johnson, Noble M. <AU10032855>
著者標目リンク Bishop, Stephen G. <AU10034725>
著者標目リンク Watkins, George D. <AU10034726>
著者標目リンク Materials Research Society <AU10008227>
著者標目リンク Materials Research Society. Meeting <AU10019286> (1985 : San Francisco, Calif.)
著者標目リンク Symposium on Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors <AU10036408> (1985 : San Francisco, Calif.)
分類標目 LCC:TK7871.85
分類標目 DC19:621.3815/2
件名標目等 Semiconductors -- Defects -- Congresses
件名標目等 Microscope and microscopy -- Congresses
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