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Defect recognition and image processing in III-V compounds, II : proceedings of the Second International Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds (DRIP II), Monterey, California, April 27-29, 1987

edited by Eicke R. Weber. -- Elsevier, 1987. -- (Materials science monographs ; 44). <BB10039049>
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Defect recognition and image processing in III-V compounds, II : proceedings of the Second International Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds (DRIP II), Monterey, California, April 27-29, 1987

edited by Eicke R. Weber. -- Elsevier, 1987. -- (Materials science monographs ; 44). <BB10039049>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 宇都宮 1F 集密書架 洋書 Z/MA/44 10012361 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 宇都宮
配置場所 1F 集密書架 洋書
請求記号 Z/MA/44
資料ID 10012361
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Defect recognition and image processing in III-V compounds, II : proceedings of the Second International Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds (DRIP II), Monterey, California, April 27-29, 1987 / edited by Eicke R. Weber
出版・頒布事項 Amsterdam ; Tokyo : Elsevier , 1987
形態事項 x, 320 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 0444428925
書誌構造リンク Materials science monographs <BB10100052> 44//a
注記 Includes bibliographies and index
学情ID BA04031349
本文言語コード 英語
著者標目リンク *International Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds <AU10014328> (2nd : 1987 : Monterey, Calif.)
著者標目リンク Weber, Eicke R. <AU10034388>
分類標目 LCC:TK7871.85
分類標目 DC19:621.3815/2
件名標目等 Semiconductors -- Defects -- Congresses
件名標目等 Gallium arsenide -- Congresses
件名標目等 Image processing -- Congresses
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