WebOPAC Local書誌詳細

ログイン

書誌詳細

図書館

検索結果一覧へ戻る

Logic testing and design for testability

Hideo Fujiwara. -- MIT Press, 1985. -- (MIT Press series in computer systems). <BB10039428>

(0)

(0)

(0)

(0)

(0)

登録タグ：

登録されているタグはありません

便利機能：

目次・あらすじを見るレビューを見る詳細情報を見る

書誌URL：

Logic testing and design for testability

Hideo Fujiwara. -- MIT Press, 1985. -- (MIT Press series in computer systems). <BB10039428>

(0)

(0)

(0)

(0)

(0)

登録タグ：

登録されているタグはありません

便利機能：

目次・あらすじを見るレビューを見る詳細情報を見る

書誌URL：

所蔵一覧 1件～1件（全1件）

ナンバーをクリックすると所蔵詳細をみることができます。

No.	巻号	所蔵館	配置場所	請求記号	資料ID	状態	返却予定日	予約	WEB書棚
0001		宇都宮	2F	548.2/F68	10010913			0件


No.	0001
巻号
所蔵館	宇都宮
配置場所	2F
請求記号	548.2/F68
資料ID	10010913
状態
返却予定日
予約	0件
WEB書棚

このページのTOPへ

目次・あらすじ

このページのTOPへ

レビュー

このページのTOPへ

書誌詳細

標題および責任表示

Logic testing and design for testability / Hideo Fujiwara

出版・頒布事項

Cambridge, Mass. : MIT Press , c1985

形態事項

x, 284 p. : ill. ; 24 cm

巻号情報

ISBN	0262060965

書誌構造リンク

MIT Press series in computer systems <BB10100391>//a

注記

Bibliography: p. [272]-278

注記

Includes index

学情ID

BA0446462X

本文言語コード

英語

著者標目リンク

*藤原, 秀雄(1946-)||フジワラ, ヒデオ <AU10017907>

分類標目

LCC:TK7868.L6

分類標目

DC19:621.3815/37

件名標目等

Logic circuits -- Testing

このページのTOPへ

検索結果一覧へ戻る

このページのTOPへ