図書館
ログイン

図書館

前の画面へ戻る

Spectroscopic characterization techniques for semiconductor technology II : January 21-22, 1985, Los Angeles, California

Fred H. Pollak, chairman/editor. -- SPIE -- the International Society for Optical Engineering, 1985. -- (Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 524). _. <BB10052289>
スタンプ登録
あべし(0) きゅんきゅん(0) ぽろぽろ(0) わくわく(0) ざわざわ(0)


登録タグ：
登録されているタグはありません
便利機能：
目次・あらすじを見る レビューを見る 詳細情報を見る
書誌URL：

Spectroscopic characterization techniques for semiconductor technology II : January 21-22, 1985, Los Angeles, California

Fred H. Pollak, chairman/editor. -- SPIE -- the International Society for Optical Engineering, 1985. -- (Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 524). _. <BB10052289>
スタンプ登録
あべし(0) きゅんきゅん(0) ぽろぽろ(0) わくわく(0) ざわざわ(0)


登録タグ：
登録されているタグはありません
便利機能：
目次・あらすじを見る レビューを見る 詳細情報を見る
書誌URL：

所蔵一覧 1件～1件（全1件）

ナンバーをクリックすると所蔵詳細をみることができます。

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 宇都宮 2F 閉架 Z/PR/524 10042532 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 宇都宮
配置場所 2F 閉架
請求記号 Z/PR/524
資料ID 10042532
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
このページのTOPへ
このページのTOPへ

書誌詳細

標題および責任表示 Spectroscopic characterization techniques for semiconductor technology II : January 21-22, 1985, Los Angeles, California / Fred H. Pollak, chairman/editor
出版・頒布事項 Bellingham, Wash. : SPIE -- the International Society for Optical Engineering , c1985
形態事項 vi, 169 p. : ill. ; 28 cm
巻号情報
ISBN 0892525592
書誌構造リンク Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering <BB34007201> v. 524//a
学情ID BA23996422
本文言語コード 英語
著者標目リンク Pollak, Fred H. <AU10043817>
著者標目リンク Society of Photo-optical Instrumentation Engineers <AU10021497>
このページのTOPへ
前の画面へ戻る
このページのTOPへ

  • 関連情報

    関連資料

    他の検索サイトで探す

    他大学資料確認

    資料を取り寄せる

    • ILL複写依頼(コピー取り寄せ)
    • ILL貸借依頼(現物借用)

    購入依頼(リクエスト)

    この書誌のQRコード