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Quantitative X-ray diffractometry

Lev S. Zevin, Giora Kimmel ; edited by Inez Mureinik. -- Springer, 1995. _. <BB10000672>
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Quantitative X-ray diffractometry

Lev S. Zevin, Giora Kimmel ; edited by Inez Mureinik. -- Springer, 1995. _. <BB10000672>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 宇都宮 2F 427.55/Z3 10023284 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 宇都宮
配置場所 2F
請求記号 427.55/Z3
資料ID 10023284
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 Quantitative X-ray diffractometry / Lev S. Zevin, Giora Kimmel ; edited by Inez Mureinik
出版・頒布事項 New York ; Tokyo : Springer , c1995
形態事項 xvii, 372 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 0387945415
注記 Bibliography: p. 355-364
注記 Includes index
学情ID BA27038245
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Zevin, Lev S. <AU10049359>
著者標目リンク Kimmel, Giora <AU10049360>
著者標目リンク Mureinik, Inez <AU10049820>
分類標目 LCC:QC482.D5
分類標目 DC20:545/.81
件名標目等 X-rays -- Diffraction
件名標目等 X-rays -- Diffraction -- Industrial applications
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