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Design of testable logic circuits

R. G. Bennetts. -- Addison-Wesley, 1984. -- (Microelectronics systems design series). _. <BB10007759>
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R. G. Bennetts. -- Addison-Wesley, 1984. -- (Microelectronics systems design series). _. <BB10007759>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 宇都宮 2F 549.7/B35 10022053 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 宇都宮
配置場所 2F
請求記号 549.7/B35
資料ID 10022053
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 Design of testable logic circuits / R. G. Bennetts
出版・頒布事項 London : Addison-Wesley , c1984
形態事項 xii, 164 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 0201144034
書誌構造リンク Microelectronics systems design series <BB10102117>//a
注記 Includes bibliographies and index
学情ID BA27472161
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Bennetts, R. G. <>
分類標目 LCC:TK7868.L6
分類標目 DC19:621.3819/535
件名標目等 Logic circuits
件名標目等 Logic circuits -- Testing
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