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Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen

Hans-Joachim Wunderlich ; gw, us. -- Springer-Verlag, 1987. -- (Informatik-Fachberichte ; 140). _. <BB10042985>
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Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen

Hans-Joachim Wunderlich ; gw, us. -- Springer-Verlag, 1987. -- (Informatik-Fachberichte ; 140). _. <BB10042985>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 全巻 宇都宮 2F 549.7/W96 10022344 0件
No. 0001
巻号 全巻
所蔵館 宇都宮
配置場所 2F
請求記号 549.7/W96
資料ID 10022344
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen / Hans-Joachim Wunderlich
出版・頒布事項 Berlin ; New York : Springer-Verlag , c1987
形態事項 xii, 133 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
巻次等 gw
ISBN 3540180729
巻号情報
巻次等 us
ISBN 0387180729
書誌構造リンク Informatik-Fachberichte <BB10101386> 140//a
注記 Originally presented as the author's thesis (doctoral--Universität Karlsruhe, 1986) under the title: Probabilistische Verfahren zur Verbesserung der Testbarkeit synthetisierter digitaler Schaltungen
注記 Includes bibliographical references (p. [121]-133)
学情ID BA27901585
本文言語コード ドイツ語
著者標目リンク *Wunderlich, Hans-Joachim <AU10045472>
分類標目 LCC:TK7874
件名標目等 Digital integrated circuits -- Testing -- Data processing
件名標目等 Probabilities
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