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二次イオン質量分析法

日本表面科学会編. -- 丸善, 1999. -- (表面分析技術選書). _. <BB10003872>
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二次イオン質量分析法

日本表面科学会編. -- 丸善, 1999. -- (表面分析技術選書). _. <BB10003872>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 宇都宮 2F 433.2/N77 10058249 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 宇都宮
配置場所 2F
請求記号 433.2/N77
資料ID 10058249
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 二次イオン質量分析法 / 日本表面科学会編
ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ
出版・頒布事項 東京 : 丸善 , 1999.7
形態事項 vii, 195p ; 21cm
巻号情報
ISBN 4621046233
書誌構造リンク 表面分析技術選書||ヒョウメン ブンセキ ギジュツ センショ <BB10113490>//a
学情ID BA42291413
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 日本表面科学会||ニホン ヒョウメン カガクカイ <AU20004952>
分類標目 物性物理学 NDC8:428.4
分類標目 物性物理学 NDC9:428.4
分類標目 分析化学［化学分析］ NDC9:433.6
分類標目 科学技術 NDLC:PA124
件名標目等 表面(工学上)||ヒョウメン(コウガクジョウ)
件名標目等 イオンビーム||イオンビーム
件名標目等 質量分析||シツリョウブンセキ
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