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はじめてのデバイス評価技術

二川清著. -- 工業調査会, 2000. -- (ビギナーズブックス ; 9). _. <BB10005427>

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はじめてのデバイス評価技術

二川清著. -- 工業調査会, 2000. -- (ビギナーズブックス ; 9). _. <BB10005427>

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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

ナンバーをクリックすると所蔵詳細をみることができます。

No.	巻号	所蔵館	配置場所	請求記号	資料ID	状態	返却予定日	予約	WEB書棚
0001		宇都宮	2F	549.8/N73	10059638			0件


No.	0001
巻号
所蔵館	宇都宮
配置場所	2F
請求記号	549.8/N73
資料ID	10059638
状態
返却予定日
予約	0件
WEB書棚

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書誌詳細

標題および責任表示

はじめてのデバイス評価技術 / 二川清著
ハジメテノデバイスヒョウカギジュツ

出版・頒布事項

東京 : 工業調査会 , 2000.1

形態事項

242p ; 21cm

巻号情報

ISBN	4769311796

書誌構造リンク

ビギナーズブックス||ビギナーズブックス <BB10114240> 9//a

注記

参考文献・引用文献: p222-230

学情ID

BA45365141

本文言語コード

日本語

著者標目リンク

二川, 清(1949-)||ニカワ, キヨシ <AU10045560>

分類標目

電子工学 NDC8:549.8

件名標目等

半導体||ハンドウタイ

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