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論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]. -- 岩波書店, 1985. -- (岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2). <BB00132069>
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論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]. -- 岩波書店, 1985. -- (岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2). <BB00132069>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 八王子 BF 集密書架C 和図書別置1 549.92/I-95/4 00001500678 0件
0002 宇都宮 2F 549/Mo88/4 10015060 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 八王子
配置場所 BF 集密書架C 和図書別置1
請求記号 549.92/I-95/4
資料ID 00001500678
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
No. 0002
巻号
所蔵館 宇都宮
配置場所 2F
請求記号 549/Mo88/4
資料ID 10015060
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
ロンリ ト テスト
出版・頒布事項 東京 : 岩波書店 , 1985.5
形態事項 x, 313p ; 22cm
巻号情報
ISBN 4000101846
書誌構造リンク 岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編||イワナミ コウザ マイクロ エレクトロニクス <> 4 . VLSIの設計||VLSI ノ セッケイ ; 2//bb
注記 参考書: p303-305
学情ID BN00059257
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 樹下, 行三(1936-)
キノシタ, コウゾウ <>
著者標目リンク 浅田, 邦博
アサダ, クニヒロ <>
著者標目リンク 唐津, 修(1947-)
カラツ, オサム <>
分類標目 電子工学 NDC8:549
分類標目 電子工学 NDC8:549.08
分類標目 NDC7:549.92
分類標目 科学技術 NDLC:ND351
分類標目 科学技術 NDLC:ND386
件名標目等 集積回路||シュウセキカイロ
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