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電子線マイクロアナリシス : 走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザ分析法

副島啓義著. -- 日刊工業新聞社, 1987. <BB10016061>
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電子線マイクロアナリシス : 走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザ分析法

副島啓義著. -- 日刊工業新聞社, 1987. <BB10016061>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 宇都宮 2F 549/So22 10015093 0件
0002 文化財 書庫 1/540 70000671525 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 宇都宮
配置場所 2F
請求記号 549/So22
資料ID 10015093
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
No. 0002
巻号
所蔵館 文化財
配置場所 書庫
請求記号 1/540
資料ID 70000671525
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 電子線マイクロアナリシス : 走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザ分析法 / 副島啓義著
デンシセン マイクロ アナリシス : ソウサ デンシ ケンビキョウ Xセン マイクロ アナライザ ブンセキホウ
出版・頒布事項 東京 : 日刊工業新聞社 , 1987.2
形態事項 x,597,5p ; 27cm
巻号情報
ISBN 4526021008
注記 引用・参考文献:p.592-597
学情ID BN00749109
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 副島, 啓義(1939-)||ソエジマ, ヒロヨシ <AU10020974>
分類標目 分析化学 NDC8:433.5
分類標目 科学技術 NDLC:PA124
件名標目等 光学分析||コウガクブンセキ
件名標目等 エックス線分光分析||エックスセンブンコウブンセキ
件名標目等 エックス線分光分析||エックスセンブンコウブンセキ
件名標目等 微量分析||ビリョウブンセキ
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