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表面と薄膜分析技術の基礎

L.C.フェルドマン, J.W.メイヤー著 ; 栗山一男,山本康博訳. -- 海文堂, 1989. <BB20002649>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 宇都宮 2F 428.4/F18 10027955 0件

0002 板橋 図書(一般分類) 433/FE 081100159207 0件

No. 0001
巻号
所蔵館 宇都宮
配置場所 2F
請求記号 428.4/F18
資料ID 10027955
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
No. 0002
巻号
所蔵館 板橋
配置場所 図書(一般分類)
請求記号 433/FE
資料ID 081100159207
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚

書誌詳細

標題および責任表示 表面と薄膜分析技術の基礎 / L.C.フェルドマン, J.W.メイヤー著 ; 栗山一男,山本康博訳
ヒョウメン ト ハクマク ブンセキ ギジュツ ノ キソ
出版・頒布事項 東京 : 海文堂 , 1989.6
形態事項 xii, 353p ; 22cm
巻号情報
ISBN 4303712000
その他の標題 原タイトル:Fundamentals of surface and thin film analysis
注記 文献:各章末
学情ID BN03575514
本文言語コード 日本語
著者標目リンク Feldman, Leonard C. <AU20008564>
著者標目リンク Mayer, James W., 1930- <AU20008565>
著者標目リンク 栗山, 一男||クリヤマ, カズオ <AU20008566>
著者標目リンク 山本, 康博||ヤマモト, ヤスヒロ <AU20008567>
分類標目 物性物理学 NDC8:428.4
分類標目 科学技術 NDLC:MC141
件名標目等 表面(工学)||ヒョウメン(コウガク)
件名標目等 薄膜||ハクマク
件名標目等 光学分析||コウガクブンセキ